Heat-Spring? 再添新品,一舉攻克大尺寸芯片翹曲難題
3月3-5日,TestConX 2025在美國亞利桑那州梅薩市隆重舉辦,在本屆展會上,銦泰公司帶來了專為應(yīng)對大尺寸芯片的翹曲問題(>200微米)及壓力限制而設(shè)計的Heat-Spring? HSx。
芯片翹曲會導(dǎo)致TIM與芯片表面接觸不良,形成氣隙,顯著降低散熱效率(熱阻可能增加數(shù)倍)。作為一家專注于金屬導(dǎo)熱界面材料的開發(fā)制造公司,銦泰公司一直深耕材料領(lǐng)域,Heat-Spring? HSx的正式上線,標志著銦泰公司在金屬導(dǎo)熱界面材料領(lǐng)域產(chǎn)品矩陣的進一步拓展和持續(xù)深化。
Heat-Spring? HSx
? 全新結(jié)構(gòu)設(shè)計,適用于翹曲超過200微米的大尺寸芯片
? 僅在20psi壓力下即可實現(xiàn)16W/m·k有效導(dǎo)熱率(使用純銦材料)
? 專為測試頭壓力限制<30psi的工況設(shè)計
? 提供300微米-1毫米的厚度選擇
? 可選配防擴散鍍層,防止芯片表面受污

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展會上,銦泰公司除了重磅推出Heat-Spring? HSx以外,還帶來了Heat-Spring?的其他家族成員,包括Heat-Spring? HSD、Heat-Spring? HSHP、Heat-Spring? HSK。
Heat-Spring?家族系列
Heat-Spring? HSD
? 原始經(jīng)典款,適用于表面平整度良好(>30psi壓力)的界面
? 針對高精度表面控制優(yōu)化的標準解決方案
Heat-Spring? HSHP
? 特殊結(jié)構(gòu)適配非平面表面,導(dǎo)熱率高達86W/m·K
? 浸沒式冷卻和老化測試的理想選擇
? 確保老化測試頭與待測器件(DUT)間均勻接觸
? 優(yōu)化未精加工散熱器表面的熱傳導(dǎo)均勻性
Heat-Spring? HSK
? 專為需要多次插拔的老化測試設(shè)計
? 鍍層屏障包覆,滿足測試接觸面要求
? 實現(xiàn)高密度熱負載下的穩(wěn)定低阻接觸
? 無污染或斷裂風險
芯片散熱問題是半導(dǎo)體行業(yè)持續(xù)關(guān)注的核心挑戰(zhàn)之一。隨著芯片算力呈指數(shù)級增長,散熱技術(shù)正面臨著巨大的挑戰(zhàn)。銦泰公司的技術(shù)突破正是源自研發(fā)人員在自然界中尋找靈感和創(chuàng)造力,從壁虎的腳步粘附能力中得到了啟發(fā),研發(fā)出了仿生學(xué)Heat-Spring?導(dǎo)熱界面材料。

浸沒式液冷示意圖,圖源AI
當下,浸沒式液冷技術(shù)有望成為散熱領(lǐng)域的主流,而金屬材質(zhì)的Heat-Spring?導(dǎo)熱界面材料由于具有可壓縮性表面設(shè)計,非常適合這類應(yīng)用。(可點擊下方圖片詳細了解Heat-Spring?導(dǎo)熱界面材料)

銦泰公司在環(huán)保與可持續(xù)發(fā)展領(lǐng)域也展現(xiàn)出了積極的企業(yè)責任,推動了電子制造行業(yè)向綠色化、低碳化轉(zhuǎn)型。銦泰公司的Reclaim and Recycle Program(回收項目)可以對包括Heat-Spring?導(dǎo)熱界面材料在內(nèi)的金屬廢料進行回收,使得廢料重獲新生,實現(xiàn)制造環(huán)節(jié)的降本增效與碳足跡優(yōu)化雙軌并行。